閃測儀OMQ100

OMQ100-088係列技術規格

OMQ100-016係列技術規格

OMQ100-03係列技術規格

青島閃測儀器介紹

大視野影像閃測、高精度、全自動，開創快速測量新理念,

通過將遠心成像與智能圖像處理軟件的結合，

任何繁瑣的測量任務，都變得無比簡單。

隻需把工件放置到有效測量區域，然後輕輕按一鍵，

工件所有二維尺寸瞬間完成測量。

應用行業

廣泛應用於機械、電子、模具、注塑、五金、橡膠、低壓電器、磁性材料、精密衝壓、接插件、連接器、端子、手機、家電、印刷電路板、醫療器械、鍾表、刀具等尺寸較小的產品及零部件的批量快速測量。

青島閃測儀器特點

1.打破尺寸測量的常規。

2.大口徑高景深，實現全視野範圍成像清晰，超低畸變。

3.高分辨率數字相機。儀器采用1200萬~4300萬像素高分辨率數字相機。

4.軟件采用先進的20：1亞像素圖象邊緣處理。

5.小二乘法回歸處理可自動祛除毛刺和異常點，將對特征位置上的影響降低到低。

6.自動識別工件、無需定位。

7.高效的批量測量。

測量範圍內一次性可測量大於20000個尺寸，100個尺寸測量時間小於1秒，大幅縮短測量時間，提高測量效率。

8.多個工件任意擺放，自動識別，批量測量。

軟件介紹

*自主研發，軟件界麵簡潔、功能強大，極易學習；采用我司自主研發的畸變校正技術，保證在視野的各位置、各角度測量結果穩定精準；自主研發的圖像拚接技術，保證拚接誤差小於0.003mm。

（特殊軟件功能可接受定製 ）

用戶程序：

(一)自動匹配工件，任意放置，一鍵測量。可自動搜索匹配並調出用戶程序。可框選建立匹配、多個位置框選組合建立匹配、用測量元素建立匹配、可導入CAD建立匹配。可建立程序組，實現工件多個麵翻麵測量。

(二)全麵的測量元素：

點、高點、線、高線、圓（中心坐標，半徑、直徑、真圓度、周長、麵積，大半徑、小半徑）、弧、矩形（中心坐標，長、寬、周長、麵積）、橢圓（中心坐標，長軸、短軸、周長、麵積）、鍵槽（中心坐標，長、寬、周長、麵積）、導入CAD輪廓掃描比對、輪廓PV、麵積對比、圓柱直徑、密封圈（通過周長計算半徑、密封圈大半徑、小半徑、厚度）、測量結果再計算（大值、小值、平均值、求和）、二維碼識別、條碼識別。

(三)標注：

距離、X距離、Y距離、半徑、直徑、角度。

(四)形狀誤差評定：

直線度、圓度。

(五)位置誤差評定：

平行度、垂直度、對稱度、同心度、位置度。

(六)坐標係轉換

笛卡爾坐標（X，Y）與極坐標（R，θ）可方便選擇。可即時轉換測量值的基本單位mm、inch、mil。 坐標平移、坐標旋轉，建立工件坐標係。

(七)測數據

可以自定義EXCEL模板，可以輸出單元格。軟件自帶CPK模板，可以計算Mean、Maximum、Minimum、Cp、Cpkl、Cpku、Cpk。

(八)其他

1、軟件語言：多國語言可選，語言包開放，可定義翻譯修改。

2、 圖像和繪圖區共用，所見即所得，可自定義：顏色、線寬、字體大小、背景顏色。

3、對焦輔助、燈光輔助功能，減少人為誤差。

4、合格/不合格（OK/NG），並報警提示，可語音輸出：OK、NG。

5、 可快速掃描輪廓，並導出到CAD。

6、 可選配IO卡，外觸發測量並OK NG 信號輸出。

(九)SPC：

包括：直方圖、Cpk趨勢圖、X控製圖、Xbar-R控製圖、Xmedian-R控製圖、X-Rs控製圖。

一鍵式測量儀的優勢

1、友好操作，低成本

提高操作效率、降低人工成本、避免人為誤差

減少試樣固定、擺放、校位、對焦、調光、運動控製，視野範圍內批量自動測量等提高測量效率。

2、操作培訓簡便、使用門檻低、測試效率高，可節省人工成本

3、測量誤差小。避免操作方式、試樣擺放、測量順序等人為失誤因素，有效消除因人為造成的測量誤差