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LS係列高精度激光掃描測頭

描述:采點間隔為30微米真實還原精密微小零件的三維形貌精度可達12微米,同類產品精度較優,可用於精密零件的檢測。相機寬增益範圍調節,自動適應不同顏色,不同光澤的物體,而無需對物體表麵進行處理。

更新時間:2023-12-12
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廠商性質:代理商
詳情介紹
采點間隔為30微米
真實還原精密微小零件的三維形貌
精度可達12微米,同類產品精度較優,可用於精密零件的檢測。
相機寬增益範圍調節,自動適應不同顏色,不同光澤的物體,而無需對物體表麵進行處理。

 
 

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